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論文

Proton irradiation enhancement of low-field negative magnetoresistance sensitivity of AlGaN/GaN-based magnetic sensor at cryogenic temperature

Abderrahmane, A.*; Ko, P. J.*; 岡田 浩*; 佐藤 真一郎; 大島 武; Sandhu, A.*

IEEE Electron Device Letters, 35(11), p.1130 - 1132, 2014/11

 被引用回数:10 パーセンタイル:49.28(Engineering, Electrical & Electronic)

宇宙用磁気センサーへの応用が期待されるAlGaN/GaNマイクロホールセンサーの縦方向と横方向の磁気抵抗に対する陽子線照射効果を明らかにするため、室温にて380keV陽子線を10$$^{14}$$cm$$^{-2}$$の線量照射した。磁気特性変化を調べた結果、照射後も同等の磁気感度を維持し、4Kといった低温における最低検出磁気強度もほぼ同等であった。一方、磁気抵抗感度は160から417V/(A$$cdot$$T)へとむしろ向上することが分かった。この値は、これまで報告されてきたAlGaN/GaN系マイクロホールセンサーの磁気抵抗感度の中で最高値である。このことから、このレベルの線量の陽子線照射により磁気抵抗感度の改善が図れることを明らかにした。

論文

Structural analysis of (Ga,Mn)N epilayers and self-organized dots using MeV ion channeling

黒田 真司*; Marcet, S.*; Bellet-Amalric, E.*; Cibert, J.*; Mariette, H.*; 山本 春也; 酒井 卓郎; 大島 武; 伊藤 久義

Physica Status Solidi (A), 203(7), p.1724 - 1728, 2006/05

 被引用回数:6 パーセンタイル:31.23(Materials Science, Multidisciplinary)

窒化ガリウム(GaN)へMnをドープすることで希薄磁性半導体が形成できると期待されているが、結晶中のMnの占有位置により磁性が変化するため、結晶中のMn位置と磁性の関係を明らかにする必要がある。本研究では、分子線エピタキシー(MBE)で作製した(Ga,Mn)Nエピ膜及びAlN基板上に形成した(Ga,Mn)Nドット中のMnサイトに関する知見を得るためにラザフォード後方散乱(RBS)と粒子誘起X線放出(PIXE)測定を行った。その結果、RBSチャネリングに対応してPIXEにより求めたGa及びMn濃度が減少することを見いだした。このことより、ほぼ全てのMn原子がGaサイトに置換していることが明らかとなった。また、ドット中に含まれるMn濃度のPIXE分析の結果、同一条件でエピ成長をした厚膜よりMn濃度が二$$sim$$三倍高濃度であることが明らかとなり、ドット形成により多量のMnが結晶中に導入できるとの結論が得られた。

論文

Single crystal growth of Gallium Nitride by slow-cooling of its congruent melt under high pressure

内海 渉; 齋藤 寛之; 金子 洋*; 桐山 幸治*; 青木 勝敏

Proceedings of Joint 20th AIRAPT - 43rd EHPRG International Conference on High Pressure Science and Technology (CD-ROM), 5 Pages, 2005/06

高圧下においてその融液を徐冷することによって、GaN単結晶を合成することに成功した。その場X線観察によって、6万気圧以上の圧力下ではGaNの高温での分解が抑制され、一致溶融液体を得られることが初めて確認された。この知見に基づき、キュービックアンビル型高圧装置を用いて、6.5万気圧,2400$$^{circ}$$Cから温度を下げることによってGaN単結晶が得られた。この結晶はロッキングカーブ半値幅が30秒以下であり、転位密度が小さいことを示唆している。

論文

高圧下融液徐冷法によるIII族窒化物半導体単結晶育成

内海 渉; 齋藤 寛之; 谷口 尚*; 青木 勝敏

応用物理, 74(5), p.593 - 596, 2005/05

GaN単結晶の新しい合成法である「高圧下でその融液を徐冷して単結晶を育成する手法」を紹介する。6GPaを超える超高圧下では、高温におけるGaと窒素への分解が抑制され、GaNが液体として存在できる。この現象に基づいて、大型プレスの高温高圧装置を用いた融液徐冷法によるGaN単結晶育成が可能になってきた。AlN-GaN混晶やInN結晶など、他のIII族窒化物半導体結晶合成への展開の現状と見通しについても述べる。

論文

高圧下における窒化ガリウムの一致溶融; 融液徐冷法による単結晶の合成

内海 渉; 齋藤 寛之; 青木 勝敏; 金子 洋*; 桐山 幸治*

日本結晶学会誌, 46(4), p.297 - 303, 2004/07

窒化ガリウムは、青色発光デバイスの中心をなす物質であり、エピタキシャル成長基板として用いられるような大型単結晶が切望されている。われわれはスプリングエイト設置のマルチアンビル型高温高圧発生装置を用いて、高温高圧下における窒化ガリウムの分解並びに融解の様子をX線その場観察した。その結果、6GPa以上の圧力下では、2200$$^{circ}$$Cで窒化ガリウムは一致溶融し、温度を下げることによって、可逆的に結晶化することを見いだした。この結果は、高圧下で窒化ガリウム融液を徐冷することによる新しい窒化ガリウム単結晶育成法につながるものである。この手法により100ミクロンサイズの単結晶がえられ、そのX線ロッキングカーブは30秒以下と極めて良質の結晶であることを示唆するものであった。

論文

高圧下における窒化ガリウムの一致溶融; 単結晶窒化ガリウム育成の新手法

内海 渉; 齋藤 寛之; 青木 勝敏; 金子 洋*

SPring-8利用者情報, 9(1), p.42 - 45, 2004/01

スプリングエイト原研ビームラインBL14B1設置の高温高圧装置を用いて、窒化ガリウムの高温高圧下での分解並びに融解挙動をその場X線回折実験により明らかにした。窒化ガリウムは、5.5GPa以下の圧力では、その窒素とガリウムに分解してしまうが、6GPa以上の高圧をかけると、窒化ガリウムとして一致溶融することが見いだされた。この事実は、高圧下で、その融液を徐冷することによる、窒化ガリウム単結晶の新しい育成手法につながるものである。

論文

Congruent melting of gallium nitride at 6 GPa and its application to single-crystal growth

内海 渉; 齋藤 寛之; 金子 洋*; 綿貫 徹; 青木 勝敏; 下村 理

Nature Materials, 2(11), p.735 - 738, 2003/11

 被引用回数:146 パーセンタイル:96.51(Chemistry, Physical)

現在、GaN系デバイスはサファイアなどの異種結晶基板上に成膜されているために、多くの転位が発生しその性能向上を阻害している。ホモエピタキシャル成長を可能とするGaN基板が切望されているが、その要請を満たす単結晶GaNを得ることは非常に難しい。高温でGaNがGaとN$$_{2}$$に分解してしまうため、融液の徐冷による標準的な単結晶育成法が利用できないためである。われわれは、放射光を用いた高温高圧下その場観察実験によって、GaNがある6万気圧以上の高圧下では分解することなく、一致溶融(congruent melting)し、その融液は温度を下げることによって可逆的にGaN結晶に戻ることを明らかにした。この事実は、高圧下でGaN組成の融液を徐冷することによって単結晶GaNを得ることができることを意味する。実際に、この手法により透明なGaN単結晶が得られ、ラマン散乱や単結晶X線振動写真などのキャラクタリゼーションの結果、非常に結晶性の良い試料であることが示唆された。

論文

Effects of implantation conditions on the luminescence properties of Eu-doped GaN

中西 康夫*; 若原 昭浩*; 岡田 浩*; 吉田 明*; 大島 武; 伊藤 久義; 中尾 節男*; 斎藤 和雄*; Kim, Y. T.*

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 206, p.1033 - 1036, 2003/05

 被引用回数:18 パーセンタイル:74.43(Instruments & Instrumentation)

サファイア基板上にエピタキシャル成長した窒化ガリウム(GaN)(0001)へEuイオンを注入し、フォトルミネッセンス発光特性を調べた。室温でEuイオンを多段階のエネルギーで注入することで2.8$$times$$10$$^{19}$$から2.8$$times$$10$$^{20}$$/cm$$^{3}$$のEu濃度層を形成した。注入後、NH$$_{3}$$,N$$_{2}$$雰囲気中で900から1050$$^{circ}C$$の温度範囲で5から30分間熱処理することで結晶を回復させた。その結果、621nm付近にEu$$^{3+}$$の4f-4f遷移に起因する鋭い発光ピークが観測された。このピーク強度はEu濃度の増加とともに増加したが2.8$$times$$10$$^{20}$$/cm$$^{3}$$では飽和した。

口頭

酸化ガス照射下でのXPSによるGaN表面化学状態の動的その場観察

角谷 正友*; 津田 泰孝; 坂本 徹哉*; 隅田 真人*; Sang, L.*; 原田 善之*; 吉越 章隆

no journal, , 

現在のGaN MOSパワーデバイスは+c GaN面上に積層したnpn構造にトレンチやファセットを形成してm面などをチャネルとして動作する。極性構造を持つGaN表面は面方位によって酸素取込が異なるために、酸化物絶縁層を形成する際にできる界面準位も表面方位に依存すると考えられる。界面準位形成メカニズムの解明に向けてGaN表面と酸化ガスとの面方位依存性を検討することは重要となる。我々はGaN結晶表面にさまざまな酸化ガスを照射しながら、その場光電子分光法(XPS)でO 1sスペクトルをリアルタイムに観察し、極性を考慮したGaN表面モデルから化学状態の考察を行った。

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